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X射線熒光分析儀器鍍窗厚度的影響

發布時間:2020-09-01 09:03:30         點擊:81

       X射線熒光分析儀器鍍窗厚度是選擇探測器時需要考慮的另一個要點,由于鍍窗對輕元素分析譜線的強吸收,使得其探測效率很低,采用25um的鍍窗,將很難測定Na等輕元素,故為分析輕元素,當然希望鍍窗越薄越好。但過薄的鍍窗厚度其使用壽命也會受到影響。因此選擇鍍窗厚度時,應根據擬分析的對象,確定合適鍍窗厚度的探測器,如果沒有實際需求,過分追求薄的鍍窗是沒有必要的。

創想能量色散熒光光譜儀

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      此外,對常規X射線熒光分析而言,通常的探測器厚度已滿足需求,如果需要分析重元素的K系譜線或高能粒子,探測器厚度也是需要重視的一個環節。探測器厚度越大,越有利于分析高能粒子或高能射線。

      在選購一臺能量探測器時,一方面要考慮探測器的分辨率,另一方面還需要考慮是將主元素測定作為分析重點,以尋求盡可能寬的濃度測定范圍,還是尋求好的分辨率而偏重于微量元素分析,綜合與折中大概是通常的選擇。

       總之,在選擇探測器時,應根據擬分析對象,綜合考慮分辨率、線性響應范圍、鉞窗厚度、探測器厚度及有效探測面積,權衡主、次、痕量元素分析范圍,有所側重,以達到有效滿足多數分析項目的目的。

 

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